一、數(shù)據(jù)偏差

 

　　這可能不同于選擇樣品測(cè)量的類(lèi)型，也可能是樣品光譜無(wú)意中覆蓋了一次樣品測(cè)試，這使得測(cè)試結(jié)果有很大的差異，這通常是因?yàn)闇y(cè)量曲線(xiàn)出現(xiàn)了錯(cuò)誤，或者信息錯(cuò)誤，或者樣品太小，或者樣品本身有問(wèn)題。ROHS2.0測(cè)試裝置特征X射線(xiàn)放射性同位素源或X射線(xiàn)發(fā)生器發(fā)出的X射線(xiàn)或X射線(xiàn)與樣品中的元素原子發(fā)生相互作用，將原子內(nèi)部電子排出。X射線(xiàn)-特征X射線(xiàn)，當(dāng)外層電子補(bǔ)充內(nèi)層電子時(shí)，該原子內(nèi)部的能量將被輻射。這些原因可能會(huì)導(dǎo)致ROHS檢測(cè)儀在檢測(cè)過(guò)程中出現(xiàn)偏差，導(dǎo)致數(shù)據(jù)不準(zhǔn)確。

 

　　二、丟失數(shù)據(jù)

 

　　造成這種情況的原因有三個(gè)，可能是保存路徑錯(cuò)誤，保存數(shù)據(jù)時(shí)沒(méi)有選擇正確的路徑，造成數(shù)據(jù)丟失；而且ROHS檢測(cè)儀有可能出現(xiàn)了故障，如果不按照正常的程序關(guān)機(jī)，很有可能會(huì)導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。

 

　　更晚一些，可能是由于使用特殊情況，即樣品檢測(cè)時(shí)出現(xiàn)問(wèn)題，從而導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失。一旦出現(xiàn)這種情況，操控者就需要從三個(gè)方面尋找原因，然后用排除法來(lái)解決問(wèn)題。一般來(lái)說(shuō)，ROHS2.0測(cè)試儀只要按照正常的流程來(lái)操作，是不會(huì)出現(xiàn)這種情況的。